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荧光光度分析法是被测离子与某些荧光试剂所形成的配合物，在紫外线照射下，产生一种不同强度的荧光，在一定的条件下，荧光强度与被测离子浓度成正比，因此，测定荧光的强度就可以测定出金属离子的浓度。
X射线荧光光谱法（XRF）是一种荧光分析方法，基本原理是：当物质中的原子受到适当的高能辐射的激发后，放射岀该原子所具有的特征X射线。根据探测到该元素特征X射线的存在与否的特点，可以定性分析，而其强度的大小可定量分析。在XRF定量分析中，鉴于高灵敏度和多用途的要求，多数采用高功率的封闭式X射线管为激发源，配以晶体波长色散法及高效率的正比计数器和闪烁计数器，并且用电子计算机进行程序控制、基体校正和数据处理。由于入射光是X射线，发射出的荧光也在X射线波长范围内。因此，常称为二次X射线光谱分析或X射线荧光光谱分析。
X射线荧光光谱分析能进行元素定性分析、半定量分析、定量分析，实现无损分析，但灵敏度不高，只能分析含量在0.02%以上的元素。
自20世纪80年代中期开始，波长色散X射线荧光光谱已相当成熟，长期综合稳定性小于等于0.05%,到了20世纪90年代，理论。系数、基本参数法已广泛用于在线分析。近年来又开发了4kW的X射线管，管流可高达?mA的电源。因此对许多常量元素而言，测试时间仅需2s,轻元素测定可扩展到被。然而样品的矿物效应、颗粒度及化学态等对分析结果的影响，仍需通过制样予以解决。
与其他分析方法相比，X射线荧光光谱测定的试样前处理简单，其物理形态可以是固体（粉末、压片、块样）、薄样、液体等，可以直接放置而无须溶样，但样品一般需要通过制样的步骤，以便得到一种能表征样品的整体组分并可为仪器测试的试样。试样应具备一定尺寸和厚度，表面平整，可放入仪器专用的样品盒中，同时要求制样过程具有良好的重现性。荧光X射线的谱线简单，光谱干扰少。不仅可分析块状样品，也可对多层镀膜的各层镀膜分别进行成分和膜厚分析。X射线荧光光谱分析的应用范围很广，钢铁、有色冶金、地质、材料、机械、石油化工、电子、农业、食品、环境保护等部门都广泛使用。但仪器构造复杂，设备价格较贵，受到一定的限制。
XRF的定性分析和半定量分析可检测元素周期表上绝大部分的元素，而且还具有可测浓度范围大（0.%?%）和对样品非破坏的特点.因此，对了解未知物的组成及大致含量是一种很好的测试手段。
在XRF的定性分析方面，只有能够从扫描获得的谱图中辨认谱峰，才能知道待测试样中存在哪些元素，进而逐步熟悉待测元素的一些主要谱线，以及常见的干扰谱线，以便选择合适的测量谱线，用于定量分析程序的编制以及谱线的重叠校正等。
几乎每个XRF谱仪的生产厂家均配置了半定量分析的软件，而且软件的更新也相当快。未知样能在很短的时间内获得一个近似定量的结果。这些半定量分析软件的共同特点有以下几点。
①所带设定标样只需在软件设定时使用一次。
②待测试样原则上可以是不同大小、形状和状态。
③分析元素的范围为4Be?92U。
④分析一个试样所需要时间为15?20min。
X射线荧光光谱法由于分析速度快而被人们所喜爱。可是这种方法的灵敏度较差，只能局限于分析毫克级样品或高品位的样品。
已经建立了一些分离或预富集后测定贵金属的X射线荧光光谱法。火试金法是主要的预富集法，将贵金属富集到铅扣中，然后灰吹，得到一颗金粒或金珠。将金珠压扁，退火，然后放在样品座上测定。
为了便于X射线荧光光谱法分析，也采用浸渍树脂的滤纸来富集贵金属，圆形滤纸可直接放在样品座中。分析试金珠溶解后的溶液，是另一种测定样品的方式。在退火后，珠中成分还是不均匀分布时，这种测定方式具有特别重要的意义。
能量色散X射线荧光光谱扩大了X射线荧光光谱法在贵金属分析中的应用。预计这类仪器在贵金属分析领域中有广阔的用途。
